Karakterizasyon ve Test Sistemleri

Yarı iletken aygıt teknolojilerinde üretimle birlikte çalışması zorunlu olan bir diğer nokta karakterizasyon ve test aşamalarıdır.  Üretilen ya da Ar-Ge aşamasındaki çalışmalarda yapılan test ve karakterizasyon işlemleri testleri yapılan ürün ya da aygıtın mühendislerle iletişim noktalarıdır. Doğru ölçüm ve datalar ile aygıtın geliştirilmesi için gereken noktalar, eksik ve iyi olduğu noktaları, kalitesi vs belirlenir ve ürünler bu şekilde kullanıcı ya da mühendislere bilgi verir.  

 Lithorum Mikroteknolojiler olarak özellikle Ar-Ge aşamalarında geliştirilen farklı türlerdeki  aygıt karakterizasyonu ve raporlamasındaki tecrübemizle labview tabanlı ölçüm sistemlerini ihtiyaca göre belirleyip üretmekteyiz. 

 

  • Pulsed IV Gate-Lag ölçüm sistemi 

  • Fotodetektör karakterizasyon ve raporlama sistemi

  • IV-CV ölçüm sistemleri 

  • Probe station

Pulsed IV Gate-Lag Ölçüm Sistemi 

Geniş bant aralıklı AlGaN / GaN yüksek hareketli elektron taşıyıcı transistörlerinin (HEMT) trap etkisini karakterize etmek için tasarlanmış darbeli IV ölçüm sistemi.

pulsed-iv.jpg
Fotodedektör Karakterizasyon ve Raporlama Sistemi

Fotodetektör karakterizasyon sistemi seri üretim fotodetektörlerin klimatik kabin içerisinde askeri standartlara uygun olarak test ve karakterizasyonlarını gerçekleştirip ürün sonnu aygıt başına rapor hazırlamaktadır. 

50 adet aygıt kapasitesine sahip Özel gereksinimlere göre dizayn edilmiş sistem için geniş aralıklarda ve yüksek hassasiyette test ve analiz sağlar.

fotodedetktör copy.jpg
IV-CV Ölçüm Sistemleri 

IV-CV ölçümleri standart spektlere sahip sistemlerden ziyade, karakterize edilecek aygıt ya da komponent için özel olarak cihaz ve ekipman seçimi yapılarak Labview tabanlı kontrol ve veri toplama yazılımı ile birlikte üretilir. 

Bunun yanı sıra belirleyeceğiniz aralık ve hassasiyetlerde, geniş yelpazede kullanabileceğiniz sistemler de tasarlayıp üretebilmekteyiz.

ıvcv copy.jpg
Probe Station

Manuel probe istasyonlarımız en küçük örnek boyutundan 300mm'lik alttaşlar için hassas analiz yapılabilmesi için tasarlanıp üretilmektedir. Mikroskop altında probe iğneleri ile 2.4 um'lik kontak bölgelerine dokunup elektriksel olarak ölçüm yapılmasını sağlar.

probe copy.jpg